fei掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
fei掃描電子顯微鏡用于半導(dǎo)體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實(shí)現(xiàn)全晶圓分析。
掃描電子顯微鏡品牌 參考價(jià)：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Scios 2 DualBeam聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于超高分辨率、高質(zhì)量樣品制備和 3D 表征。
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束 參考價(jià)：面議
Aquilos 2 Cryo FIB聚焦離子束專用于為高分辨率冷凍電子斷層掃描或微晶 MicroED 制備電子透明的薄片。
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 Hydra DualBeam 顯微鏡具有多個(gè)離子種類、適用于 3D EM 和 TEM 樣品制備的等離子聚焦離子束掃描電子顯微鏡檢查。
Helios 5 Laser PFIB System 參考價(jià)：面議
Helios 5 Laser PFIB System 可以利用納米級(jí)分辨率實(shí)現(xiàn)快速3D表征毫米尺度材料。
Helios 5 PFIB DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 PFIB DualBeam由于新 PFIB 色譜柱可實(shí)現(xiàn) 500 V Xe+ 最終拋光和所有操作條件下的優(yōu)異性能，因此可以實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量、無鎵TE...
Helios 5 DualBeam 參考價(jià)：面議
Helios 5 DualBeam使用的 Thermo Scientific Elstar 電子鏡筒為任何經(jīng)驗(yàn)水平的用戶提供 Thermo Scientific...
聚焦離子束掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
Helios 5 EXL DualBeam 聚焦離子束掃描電子顯微鏡用于半導(dǎo)體工業(yè)的 FIB-SEM TEM 樣品制備，可實(shí)現(xiàn)全晶圓分析。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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